说明

有n（ $2≤n≤20$ ）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。

每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。

给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

输入格式

输入描述:

输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。

第二行到第 $n+1$ 行为 $n\times n$的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为 $0$ 或 $1$ ，在这 $n$ 行中的第 $i$ 行第 $j$ 列（ $1≤i, j≤n$ ）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果， $1$ 表示好， $0$ 表示坏， $i=j$ 时一律为 $1$（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。

输入样例:

3
1 0 1
0 1 0
1 0 1

输出格式

输出描述:

按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

输出样例:

1 3

提示

HINT:时间限制：1.0s 内存限制：512.0MB